★符合标准： 符合MIL-STD-883D、MIL-M-38510、GJB548、GJB597等试验标准要求。 ★适用范围： 系统适用于各种封装形式的SRAM，DRAM，SDRAM ，FLASH，DDR，RDRAM等器件进行高温动态老化筛选，并且在
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