★符合标准： 符合MIL-STD-750、GJB128、IEC、AEC-Q101等试验标准要求。 ★适用范围： 适用于各种封装形式的二极管、三极管、MOSFET、IGBT等器件的间歇寿命试验和稳态寿命试验。 ★技术特点

★符合标准： 符合MIL-STD-750、GJB128、IEC、AEC-Q101等试验标准要求。 ★适用范围： 适用于各种封装形式的二极管、三极管、MOSFET、IGBT等器件的间歇寿命试验和稳态寿命试验。